The Japan Times - Aehr Test Systems beruft den ehemaligen Meta-Infrastruktur-Manager Vijay Rao in das Board of Directors

FREMONT, Kalifornien / ACCESS Newswire / 29. Oktober 2026 / Aehr Test Systems (NASDAQ:AEHR), ein führender Anbieter von Test- und Burn-in-Lösungen für gehäuste Halbleiterbauelemente, die in den Bereichen künstliche Intelligenz (KI), Siliziumphotonik, Rechenzentren, Automobilindustrie und Industrieanwendungen zum Einsatz kommen, gab heute die Berufung von Vijay Rao in das Board of Directors mit Wirkung zum 28. Oktober 2026 bekannt.

Rao verfügt über 30 Jahre Erfahrung in der Technologiebranche, darunter mehr als 13 Jahre bei Meta, wo er zuletzt als Vice President of Infrastructure tätig war. Seine Erfahrung umfasst die Bereiche Infrastrukturstrategie, KI-Computing und Halbleitertechnologien in Hyperscale-, Unternehmens- und Start-up-Umgebungen.

„Vijay bringt fundiertes Fachwissen über die Infrastrukturanforderungen von Hyperscale-Rechenzentren mit, einschließlich der Integration von KI-Beschleunigern, Hochleistungsspeichern und optischen Netzwerken", sagte Gayn Erickson, President und Chief Executive Officer von Aehr Test Systems. „Er weiß aus erster Hand, wie sich die Qualität und Zuverlässigkeit von Halbleitern auf die Systemleistung und -verfügbarkeit in großem Maßstab auswirken. Seine Sichtweise wird von großem Wert sein, wenn wir unsere Test- und Burn-in-Lösungen auf Waferebene sowie für gehäuste Halbleiterbauelemente weiterentwickeln und unsere Präsenz im Bereich der KI- und Rechenzentrumsanwendungen ausbauen."

Rhea Posedel, Chairman des Board of Directors von Aehr, erklärte: „Vijay bringt wertvolle Einblicke in die sich wandelnden Anforderungen von Betreibern von Hyperscale-Infrastrukturen und die dahinterstehenden Halbleitertechnologien mit. Seine Kombination aus technischem Fachwissen und strategischer Erfahrung wird unser Board stärken, während wir das langfristige Wachstum von Aehr vorantreiben."

„Der groß angelegte Einsatz von KI-Infrastruktur rückt die Leistung und Zuverlässigkeit von Halbleitern in den Mittelpunkt", sagte Rao. „Die Kompetenzen von Aehr im Bereich der Tests und des Burn-in auf Waferebene sowie für gehäuste Halbleiterbauelemente bieten Lösungen für wichtige Herausforderungen bei der Qualifizierung und Produktion von Halbleitern. Ich freue mich darauf, mit dem Board und dem Managementteam zusammenzuarbeiten, während das Unternehmen diese Kompetenzen weiter ausbaut und seine Wachstumschancen nutzt."

Über Vijay Rao
Vijay Rao ist ein Senior Technology Executive mit 30 Jahren Erfahrung in der Leitung von Innovations- und Strategieprojekten in den Bereichen Infrastruktur, künstliche Intelligenz und Halbleitertechnologien in Hyperscale-, Unternehmens- und Start-up-Umgebungen. Zuletzt war er als Vice President of Infrastructure bei Meta tätig, wo er für die Gestaltung der Strategie und Weiterentwicklung der technologischen Infrastruktur verantwortlich war, die den globalen operativen Betrieb des Unternehmens unterstützt. Während seiner mehr als 13-jährigen Tätigkeit bei Meta hatte er leitende Führungspositionen inne, die sich auf die langfristige Technologiestrategie und deren Umsetzung erstreckten. Dabei arbeitete er mit Partnern aus der gesamten Branche zusammen, um eine skalierbare, leistungsstarke technologische Infrastruktur voranzutreiben und die technologischen Fähigkeiten des Unternehmens weiterzuentwickeln. Zuvor hatte er Führungspositionen bei AMD inne. Er verfügt über einen Master-Abschluss in Computer Engineering von der Purdue University.

Über Aehr Test Systems
Aehr Test Systems mit Hauptsitz in Fremont, Kalifornien, ist ein führender Anbieter von Testlösungen für das Testen, Burn-in und Stabilisieren von Halbleiterbauelementen auf Waferebene, als vereinzelte Halbleiterchips (Dies) und auf Gehäuseebene und hat weltweit Tausende von Systemen installiert. Steigende Anforderungen an Qualität, Zuverlässigkeit, Sicherheit und Schutz von Halbleitern, die in Anwendungen wie Elektrofahrzeugen, erneuerbaren Energien, fortschrittlichen KI-Prozessoren, Rechen-, Daten- und Telekommunikationsinfrastruktur sowie Festkörperspeichern zum Einsatz kommen, führen zu zusätzlichen Testanforderungen und neuen Möglichkeiten für die Produkte und Lösungen von Aehr. Zu den Produkten von Aehr gehören die FOX-P™-Familie von Test- und Burn-in-Systemen auf Waferebene, FOX WaferPak^™-Kontaktoren, FOX DiePak^®-Träger sowie die Hochleistungs-Sonoma™-Familie von Test- und Burn-in-Lösungen auf Gehäuseebene für KI-Beschleuniger, GPUs und Prozessoren für Hochleistungsrechner. Zusammen positionieren diese Plattformen Aehr als Anbieter von Lösungen für die Zuverlässigkeit und Prüfung von Halbleitern, die den gesamten Bereich von der technischen Qualifizierung bis zur Massenproduktion abdecken. Weitere Informationen finden Sie unter www.aehr.com.

Safe-Harbor-Erklärung
Diese Pressemitteilung enthält zukunftsgerichtete Aussagen im Sinne der geltenden Wertpapiergesetze, darunter Aussagen zu den Wachstumschancen von Aehr, zur künftigen Entwicklung der KI-Infrastruktur und zu den potenziellen Beiträgen des Board of Directors. Diese Aussagen unterliegen Risiken und Ungewissheiten, die dazu führen könnten, dass die tatsächlichen Ergebnisse wesentlich von den ausdrücklichen oder impliziten Aussagen abweichen. Weitere Informationen zu diesen Risiken sind in den bei der Securities and Exchange Commission eingereichten Unterlagen von Aehr enthalten, darunter die jüngsten Formulare 10-K und 10-Q. Aehr übernimmt keine Verpflichtung, zukunftsgerichtete Aussagen zu aktualisieren, es sei denn, dies ist gesetzlich vorgeschrieben.

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Ansprechpartner:

Quelle: Aehr Test Systems

H.Takahashi--JT